美國福祿克Fluke接地電阻測(cè)試儀 Fluke 1621 接地電阻測(cè)試儀

                                              美國福祿克Fluke接地電阻測(cè)試儀   Fluke 1621 接地電阻測(cè)試儀
     美國福祿克Fluke接地電阻測(cè)試儀 Fluke 1621 是一款簡(jiǎn)單易用的接地測(cè)試儀。 對(duì)于接地電阻測(cè)試場(chǎng)合，1621 是檢測(cè)可靠接地連接線路的**道防線。 裝置采用多種基本的接地測(cè)試方法，其中包括三極電壓降測(cè)試法及兩極接地電阻測(cè)試法。 它的尺寸輕巧方便，擁有結(jié)實(shí)的皮套以及清晰的寬大 LCD 顯示屏，使之成為大多數(shù)電氣接地工作場(chǎng)合的理想現(xiàn)場(chǎng)接地測(cè)試儀。
產(chǎn)品特點(diǎn) 

技術(shù)指導(dǎo)

常規(guī)技術(shù)指標(biāo)
測(cè)量功能	三極接地電阻，兩極交流電阻，干擾電壓
基本誤差	查閱參考溫度范圍，提供一年保修
測(cè)量速率	每秒測(cè)量 2 次
電池	1 個(gè) 9 伏堿性電池 (LR61)
電池電量狀態(tài)	如果電壓低于 6.5 V，則會(huì)顯示 LO-BAT（低電量）
電壓	H/C2 和 E/C1 接頭之間:   *大 250 Veff（有效電壓） S/P2 和 E/C1 接頭之間:  *大 250 Veff
氣候類別	VDE/VDI 3540 RZ（符合 KWG，每個(gè) DIN 40040，4/87）
溫度性能	工作:  -10 °C 至 +50 °C（+14 °F 至 +122 °F） 操作:  0 °C 至 +35 °C（+32 °F 至 +95 °F） 存儲(chǔ):  -20 °C 至 +60 °C（+68 °F 至 +140 °F） 參考:   +23 °C ± 2 °C (+73 °F ± 4 °F)
溫度系數(shù)	量程的 ± 0.1 %，每開氏溫度
安全	IEC/EN 61010-1，600 V，II 類，2 級(jí)污染
尺寸	113 毫米 x 54 毫米 x 216 毫米（(4.5 英寸 x 2.1 英寸 x 8.5 英寸），包括護(hù)套
重量	850 克（1.9 磅），包括標(biāo)準(zhǔn)附件，體積約 600 立方厘米
注:	如果不使用測(cè)試儀，或需要長期存放，請(qǐng)卸下電池并與測(cè)試儀分開存放，以免電池泄露對(duì)測(cè)試儀造成損害。
注:	測(cè)試儀的 4 個(gè)溫度范圍符合歐洲安全標(biāo)準(zhǔn)要求；通過使用溫度系數(shù)來計(jì)算工作環(huán)境溫度下的準(zhǔn)確度，儀器可在整個(gè)溫度范圍內(nèi)正常工作。

 

電氣技術(shù)指標(biāo)
*大偏差:	E1 影響因素  位置 E1 偏差影響  0% E2 影響因素  電壓 E2 偏差影響  0% E3 影響因素  溫度 E3 E3 偏差影響  2.3 % E4 影響因素  串行干擾電壓 (20 V) E4 偏差影響  0.6 % E5 影響因素  探針和輔助探針電阻 E5 偏差影響  10%
測(cè)試電壓	3.7 kV
保護(hù)等級(jí)	IP 40；IEC/EN 60529
電磁兼容性	輻射: EC/EN 61326，B 類    抗擾: IEC/EN 61326，附錄 C
RE 電阻測(cè)量	測(cè)量方法  使用改進(jìn)的串?dāng)_衰減方法進(jìn)行電流-電壓測(cè)量，無需補(bǔ)償導(dǎo)線電阻測(cè)量，使用探針（三極）或不使用探針（兩極），符合 IEC/EN 61557-5 標(biāo)準(zhǔn) 開放電路電壓  23 至 24 V ac 短路電流  > 50 mA ac 測(cè)量頻率  128 Hz *大許可過載  250 Veff
測(cè)量時(shí)間	8 秒（從按“開始起計(jì)算的平均值）
限制輸入	即使測(cè)試儀關(guān)閉，仍會(huì)保留設(shè)定值（如果電池電量充足）
自動(dòng)切換分辨率	RH  < 7 kΩ 分辨率  0.01 Ω RH  < 50 kΩ 分辨率  0.1 Ω RH  > 50 kΩ 分辨率  1 Ω
干擾直流和交流電壓顯示	*大電壓  30 Veff 共模抑制  > 80 dB，50 Hz 和 60 Hz Ri  680 kΩ 測(cè)量誤差  對(duì)于純交流電和直流電信號(hào)，< 10 %

 

量程
0.15 Ω 至 20 Ω	分辨率  0.01 Ω 顯示范圍  0 至 19.99 Ω
200 Ω	分辨率  0.1 Ω 顯示范圍  20 至 199.9 Ω
2 kΩ	分辨率  1 Ω 顯示范圍  200 至 1999 Ω
基本誤差	±（測(cè)量值的 6 % + 5 位數(shù)字）
操作誤差 IEC 61557	±（測(cè)量值的 18 % + 5 位數(shù)字）
注:	[1] 包括影響因素 E1-E5 造成的所有偏差。 如果高探針或輔助探針電阻造成的偏差 E4 高于指定值，即會(huì)閃爍。 測(cè)量值不在指定的操作誤差范圍內(nèi)。