檢測(cè)平臺(tái)別名：檢測(cè)平板 http://www.btbzjx.com/ztpb/152.html
檢測(cè)平臺(tái)技術(shù)要求
檢測(cè)平臺(tái)工藝：工作面采用刮研工藝，工作面上可加工V形、T形、U形槽、燕尾槽、圓孔、長(zhǎng)孔等。
檢測(cè)平臺(tái)用途：是用于工件檢測(cè)或劃線的平面基準(zhǔn)量具。
檢測(cè)平臺(tái)的質(zhì)量檢測(cè)：檢測(cè)平板(檢測(cè)平臺(tái))工作表面不應(yīng)有銹跡、劃痕、碰傷及其他影響使用的外觀缺陷。
精度劃分
[1] 檢測(cè)平臺(tái)的平面度可分為：
�、貯A級(jí):其平面度(μm)= 1+1.6D2 (D為平臺(tái)對(duì)角線長(zhǎng)或直徑),用于高度精密 之測(cè)定之用, 常用于實(shí)驗(yàn)室。
�、� A級(jí):其平面度為AA級(jí)之兩倍誤差,常用于工具檢驗(yàn)室作精密量具之檢驗(yàn)之用。
�、� B級(jí):其平面度為AA級(jí)之四倍誤差,常用于工具檢驗(yàn)室或在現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn)量具或劃線之用
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