基恩士發(fā)布形狀測(cè)量激光顯微系統(tǒng)VK-X100/X200系列

　　高分辨率，大景深觀察

　�。�1） 高分辨率， 最大放大24000 倍

　�。�2） 完全聚焦的清晰圖像

　　（3） 符合溯源性要求

　　仿佛彩色 SEM

　�。�1） 16 bit 激光彩色觀察

　�。�2） 放置并且測(cè)量，您可以在幾秒鐘內(nèi)進(jìn)行分析

　�。�3） 可拆卸測(cè)量頭單元允許各種尺寸的樣品測(cè)量�？刹鹦稖y(cè)量頭單元可以與其他設(shè)備整合并支持遠(yuǎn)程操作。

　　無損輪廓和粗糙度測(cè)量

　�。�1） 非接觸式設(shè)計(jì)，可用于測(cè)量軟質(zhì)的工件

　�。�2） 方便定位測(cè)量區(qū)域

　�。�3） 激光光束波長(zhǎng)比表面粗糙度測(cè)量直徑小

激光顯微系統(tǒng)VK-X100/X200系類