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核心提示：
的NanoCalc系統(tǒng)利用了光譜反射測量技術(shù)，為半導(dǎo)體、醫(yī)療和工業(yè)環(huán)境領(lǐng)域的客戶光學(xué)薄膜厚度的精確測量。新款預(yù)配置NanoCalc系統(tǒng)面向客戶及新型應(yīng)用，適合深紫外到近紅外波段的檢測。
NanoCalc系統(tǒng)適用于多種波長、多種采樣方式以及光學(xué)厚度（1.0nm-250μm）要求。用戶可以在4種標(biāo)準(zhǔn)型號中（涵蓋~200-1700nm）做出選擇，并且將它們與軟件、反射探頭、光纖和各種附件整合到一起。對于可見光譜（400-850nm）或者紫外可見光譜（250-1050nm）的應(yīng)用，用戶可以通過選擇預(yù)配置的系統(tǒng)，使操作更加便利。這個(gè)預(yù)配置的系統(tǒng)包括NanoCalc，反射探頭、樣品臺、標(biāo)準(zhǔn)臺階膜厚Si-SiO2晶片以及可以分析10層薄膜的軟件。
為了滿足要求更高的應(yīng)用環(huán)境，NanoCalc系統(tǒng)可以與大量的擴(kuò)展軟件、光纖以及諸如掃描平臺、顯微鏡和微光斑聚焦裝置等測量附件一同使用。
在減反射硬質(zhì)涂層、太陽能電池板上的非晶硅、OLED顯示面板、光刻膠等膜厚測量領(lǐng)域，NanoCalc系統(tǒng)將發(fā)揮尤為重要的作用。
客戶定制的NanoCalc系統(tǒng)還可以在現(xiàn)場、多點(diǎn)或者真空測量中實(shí)現(xiàn)附加的用戶控制。用戶可以自由選擇合適的光纖組件或者反射探頭。此外，用戶還可以通過其他軟件或者是利用軟件附加功能（包括遠(yuǎn)程控制、在線控制、掃描以及多層測量）控制NanoCalc的功能。
