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串聯(lián)MEMS開關(guān)的一種等效電路模型

放大字體  縮小字體 發(fā)布日期:2014-10-21     來源:[標簽:出處]     作者:[標簽:作者]     瀏覽次數(shù):133
核心提示:

  摘 要:本文建立了串聯(lián)懸臂梁MEMS開關(guān)的一個等效電路模型,利用該模型研究了開關(guān)的微波傳輸性能,并與有限元方法仿真的結(jié)果進行比較,結(jié)果表明,本文所建立的模型能很好地反映開關(guān)的微波特性。

1 引言

  近年來,人們對機電系統(tǒng)器件輕型化、小型化的需要,促使微機電系統(tǒng)(MEMS)技術(shù)迅速發(fā)展。MEMS器件在微波射頻電路中得到了廣泛應用,如電感、濾波器、開關(guān)等,其中,微機電開關(guān)作為微波T/R組件中最重要的元件之一,由于其優(yōu)越的性能而越來越受到關(guān)注,近年來取得了很大的發(fā)展,出現(xiàn)了各種類型的MEMS開關(guān)。與微波電路中過去所用的p-i-n二極管開關(guān)及FET開關(guān)相比,MEMS開關(guān)自身的結(jié)構(gòu)形式和工作原理決定了它不僅在寬頻范圍內(nèi)具有高隔離度、低插損的優(yōu)點,而且具有重量輕、尺寸小、功耗低的特點,從而可廣泛應用于雷達系統(tǒng)、衛(wèi)星通訊系統(tǒng)、無線通訊系統(tǒng)等。

  就目前的單刀單擲MEMS開關(guān)而言,其電路有串聯(lián)和并聯(lián)兩種結(jié)構(gòu),由于結(jié)構(gòu)不同,導致這兩種開關(guān)傳輸性能隨頻率變化而不同。并聯(lián)結(jié)構(gòu)的MEMS開關(guān)隨著頻率的增加,其隔離度增加,插損降低;而串聯(lián)結(jié)構(gòu)的MEMS開關(guān)隨著頻率的增加,其隔離度降低,插損增加。因此,在較低頻率下,宜使用串聯(lián)結(jié)構(gòu)的MEMS開關(guān),而在高頻下宜使用并聯(lián)結(jié)構(gòu)的開關(guān)。對這兩種開關(guān)的微波傳輸性能的研究,目前幾乎都是利用3D電磁仿真軟件進行仿真,缺乏一個方便而又較好滿足實際設(shè)計的電路模型。建立一個簡單有效的電路模型,對于MEMS開關(guān)器件的設(shè)計、尺寸的優(yōu)化等無疑具有重要意義,同時還可方便地將等效電路模型應用到其他CAD軟件中,從而更易于設(shè)計出性能優(yōu)異的MEMS器件。

  本文建立了串聯(lián)懸臂梁結(jié)構(gòu)MEMS開關(guān)的等效電路,利用該模型模擬MEMS開關(guān)的微波性能,并將結(jié)果與有限元仿真結(jié)果進行比較,以驗證本文所建模型的有效性。

2、等效電路模型

  通常的串聯(lián)懸臂梁結(jié)構(gòu)MEMS開關(guān)示意圖如圖1所示。
  


  

其中,h為微帶線基底厚度,g為兩段微帶線的間隙寬度。

  對于MEMS開關(guān),其“斷”狀態(tài)時的隔離度是最重要的微波參數(shù)之一,它可以用MEMS開關(guān)的散射矩陣參量S21來表征,而開關(guān)的回波損耗則可以用S11來表征。利用圖2所示的等效電路,可導出這個雙口網(wǎng)絡(luò)的散射矩陣,從而可得到MEMS開關(guān)的微波性能參數(shù)。?

3、結(jié)果與討論

  利用上述模型,分別模擬了不同尺寸的串聯(lián)MEMS開關(guān)“斷”狀態(tài)時的性能,并與有限元仿真軟件HFSS的仿真結(jié)果進行比較。

  在圖1中,該開關(guān)由一個金屬懸臂梁和兩段微帶線構(gòu)成。當懸臂梁與下拉電極間存在電壓時,懸臂梁將受靜電吸引力作用而向下彎曲,使懸臂梁末端與微帶線接觸,從而使信號導通,此時開關(guān)處于“通”的狀態(tài)(圖1(b)),當撤去外加電壓后,懸臂梁將恢復到初始狀態(tài),從而使懸臂梁末端與微帶線脫離接觸,電路斷開,此時開關(guān)處于“斷”的狀態(tài)(圖1(a))。在“通”狀態(tài)下,開關(guān)的插損主要由金屬懸臂梁的電阻及接觸電阻決定,而在“斷”狀態(tài)下,開關(guān)的隔離度主要由金屬懸臂梁與微帶線間的電容決定。從圖1可以發(fā)現(xiàn),開關(guān)可等效為一個微帶間隙并聯(lián)一個懸臂梁結(jié)構(gòu),由此可建立開關(guān)處于“斷”狀態(tài)和“通”狀態(tài)時的等效電路,如圖2所示。?

  圖2中,電容C1為懸臂梁末端與微帶線間的電容。C2是跨過兩段微帶線間隔的間隙電容,C3是微帶線末端的邊緣接地電容。Zs是微帶線的特性阻抗,Ron是“通”狀態(tài)時懸臂梁末端與微帶線的接觸電阻。

  在忽略邊緣電容的情況下,C1可很容易由下式導出:


  
  其中,ε0為真空介電常數(shù)。W為微帶線寬度,L為懸臂梁末端與微帶線的重疊長度,d為懸臂梁末端與微帶線間的距離。

  間隙電容C2和接地電容C3為〔9〕:

  從圖3可以看出,本文所建模型的模擬結(jié)果與有限元方法所計算的結(jié)果符合得很好,圖3(a)中S11兩者結(jié)果最大差別小于0.03dB,S21最大差別小于0.3dB,圖3(b)中S11兩者結(jié)果最大差別小于0.02dB,S21最大差別小于0.5dB,說明本文所建立的模型能很好地模擬開關(guān)的微波性能。從等效電路圖也可以看出,由于本文所建模型忽略了如電阻、電感等因素,從而使模型計算結(jié)果與有限元仿真結(jié)果有一定的差別。同時,(2)式中間隙電容和接地電容的計算誤差為7%〔9〕,這也導致模型模擬結(jié)果與有限元方法仿真結(jié)果有所差別。

  利用圖2的等效電路圖,可以得到MEMS開關(guān)的微波性能隨懸臂梁與微帶線距離d、隨微帶線間隙g的變化規(guī)律,如圖4,5所示。

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  從圖4可見,隨著懸臂梁與微帶線距離d從1μm增加到10μm,MEMS開關(guān)的|S21|參量

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